Présentation et équipements
L'unité de recherche métrologie et qualité propose ses services en apportant des solutions de contrôle avec ou sans contact ainsi que ses connaissances en matière d'optique, de qualité et de gestion de production. L'UR-MQ est scindée en deux parties bien distinctes, la prestation de services et la recherche appliquée et développement.
La partie prestation de services de l'UR-MQ est active dans le contrôle avec ou sans contact. Elle possède divers appareils de mesure dimensionnelle ainsi que de topographie de surface et dispose également d'une machine à palpage 3D et d'une machine à rayons X pour l'inspection de cartes électroniques notamment.
Durant l'année 2004, l'unité de recherche s'est équipée d'une salle blanche spécialement dédiée à la métrologie afin de subvenir aux besoins de différents domaines d'application exigeants. Cet environnement est contrôlé en température (20.0 ± 0.5°C), en propreté (classe ISO 7) ainsi qu'en humidité (40 ± 10%).
Début 2009, une zone "ESD Safe" a été créée afin de garantir au domaine électronique, entre autre, que les produits passant par le poste d'inspection aux rayons X ne sont soumis à aucune décharge électrostatique.
La Ra&D de l'unité de recherche métrologie et qualité est active en microtechniques et est spécialisée dans le domaine du développement d'instruments de mesure (mesures dimensionnelles, mesures optiques, métrologie sur fibres optiques). Récemment, l'Unité de Recherche a mené à bien divers projets liés à la mesure de distance et longueur de très haute précision par interférométrie. Le savoir-faire dans ce domaine est implanté aussi bien dans les milieux académiques qu'industriels. L'Unité de Recherche Métrologie et Qualité possède, entre autre, toute l'infrastructure dédiée à la conception d'interféromètres spécifiques (Nd : YAG, He-Ne, diodes laser, peigne de fréquences optiques).
Bien qu'elle ne soit pas encore accréditée, l'unité de recherche Métrologie et Qualité fonctionne au maximum selon la norme ISO 17025 (Laboratoire d'essais).
